手機(jī)(微距離)低等級(jí)跌落試驗(yàn)裝置 SH3114B

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產(chǎn)品名稱： 手機(jī)(微距離)低等級(jí)跌落試驗(yàn)裝置 SH3114B

上市日期： 2022-08-04

手機(jī)(微距離)低等級(jí)跌落試驗(yàn)裝置依據(jù)GB 3873-1983相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造。

手機(jī)(微距離)低等級(jí)跌落試驗(yàn)裝置的技術(shù)參數(shù)

手機(jī)(微距離)低等級(jí)跌落試驗(yàn)裝置依據(jù)GB 3873-1983相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造。

技術(shù)參數(shù)：

1、跌落高度：100㎜;

2、試驗(yàn)表面：1.5mm厚的靜電膠墊;

3、總跌落次數(shù)：10,000次。

手機(jī)(微距離)低等級(jí)跌落試驗(yàn)裝置依據(jù)GB 3873-1983相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造。

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上市日期：2022-08-04

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手機(jī)(微距離)低等級(jí)跌落試驗(yàn)裝置的技術(shù)參數(shù)

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技術(shù)參數(shù)：

1、跌落高度：100㎜;

2、試驗(yàn)表面：1.5mm厚的靜電膠墊;

3、總跌落次數(shù)：10,000次。

手機(jī)(微距離)低等級(jí)跌落試驗(yàn)裝置依據(jù)GB 3873-1983相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造。

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