CTI測(cè)試專用鉑金電極
漏電起痕試驗(yàn)儀是依據(jù)GB 4706.1、GB 4207、GB/T6553、GB7000.1、IEC60112
《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》、 UL 746A 、 ASTM D 3638-92 、 DIN
53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。
測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù) (PT1)
漏電起痕測(cè)試專用鉑金電極,鉑金電極純度為99.9%,鉑金部分規(guī)格:2mm± 0.1mm(厚度)×5mm±0.1mm(寬度)× 12mm ±
5mm(長度), 接桿部分為紫銅(長約25mm,可定制),30°±2°斜面,斜面的刃近似為平面,用于固體材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定。
廣州信禾檢測(cè)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的漏電起痕鉑金電極符合標(biāo)準(zhǔn):GB4207、IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造而成,適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器的固體絕緣材料及其產(chǎn)品模擬在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測(cè)定,具有簡便、準(zhǔn)確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。